Эллипсометрические исследования оптических констант тонких пленок фуллеренов C60 и C70

С момента открытия в 1985 году молекулярные структуры фуллерены, представляющие собой замкнутые углеродные многогранники, привлекают внимание ученых из таких областей, как материаловедение, электроника и нанотехнологии. Интерес к различным производным фуллерена вызван увеличением производительности и эффективности устройств, в которых они используются. Наиболее распространенной производной является PC60BM, которая применяется в органических солнечных элементах. Для исследования же тонких пленок фуллеренов, а именно определения оптических констант, используется метод спектральной эллипсометрии в диапазоне от УФ до ближнего ИК. Полученная информация способствует лучшему пониманию электронной структуры этих материалов.

Специалистами компании HORIBA Scientific было разработано новое приложение для спектральных эллипсометров, посвященное исследованию тонких пленок фуллеренов С60 и С70. На их примере описана методика определения оптических констант, величин запрещенных зон, а также толщин пленок с использованием эллипсометра HORIBA Uvisel 2.

Предлагаем ознакомиться с более подробной информацией, пройдя по ссылке: Приложение Эллипсометрия – Исследование оптических констант тонких пленок фуллеренов C60 и C70 (eng).

Если вы хотите узнать больше, пишите по e-mail nytek@nytek.ru или звоните по тел. +7 (495) 661 0681.