Главная Продукция Рентгено-флуоресцентные анализаторы Рентгенофлуоресцентный аналитический микроскоп XGT-7200

Рентгенофлуоресцентный аналитический микроскоп XGT-7200

Новое поколение аналитических XRF-микроскопов.

  • точечный анализ и спектральное картографирование поверхности;
  • режим двойного вакуумирования;
  • размер пятна от 1,2 мм до 10 мкм.

XGT-7200 представляет собой совершенно новое поколение рентгенофлуоресцентных микроскопов, обеспечивающих беспроблемное слияние оптического наблюдения и элементного анализа, коренным образом изменяющих мир микроанализа, утверждая аналитический XRF-микроскоп в качестве повседневного исследовательского инструмента для аналитической практики.

Особенности конструкции XGT-7200 гарантируют многосторонность и гибкость при проведении каждого измерения. Программный выбор типа рентгеновской трубки с диаметрами пятна от уникальной величины 10 мкм до 1,2 мм позволяет оптимизировать условия для всего диапазона микро- и макроизмерений. Точно так же система двойного вакуумирования позволяет в течение секунд осуществить переключение между высокой чувствительностью полного вакуума и универсальным методом локализованного вакуума.

Уникальные преимущества XGT-7200 делают этот инновационный микро-XRF анализатор пригодным для самого широкого спектра приложений: электроника, анализ отработанных машинного масла и топлива, криминалистика, геология, минералогия, фармацевтика, музейное дело, металлургия, биология, медицина и археология. Гибкость прибора позволяет быстро переходить от макроанализа с широкой областью обзора к изучению микрообъекта с одновременным наблюдением рентгеновской флуоресценции и просвечивающего режима.

Несомненными преимуществами XGT-7200 являются:

  • Одноточечный и автоматизированный многоточечный анализ позволяют осуществлять высококачественное снятие спектров как одиночной точки, так и определенного пользователем набора точек по поверхности образца. Пики элементов автоматически локализуются и маркируются, может быть проведен количественный анализ вплоть до уровней ppm по методам фундаментальных параметров (FPM), FPM с одним стандартом и полномасштабной калибровкой по стандартным образцам. Также может быть выполнен расчет толщин для многослойных образцов нано- и микрометрового диапазона;
  • Программное обеспечение SmartMap записывает полные спектры EDXRF для каждой точки образца, допуская возможность ретроспективного анализа всего образца или выделенной области образца с одновременным качественным и количественным анализом. Изображение в проходящих рентгеновских лучах обеспечивает дополнительное понимание структуры образца, позволяя изучить особенности, невидимые глазу. ПО позволяет легко контролировать прибор, быстро просмотреть образец и выбрать область анализа, а также провести полный анализ;
  • Возможность создания изображения в проходящих рентгеновских лучах одновременно с рентгенофлуоресцентным изображением. Это может быть использовано для анализа внутренней структуры образца и выявления областей анализа, невидимых глазу. Сканирование осуществляется узким перпендикулярным лучом для получения четкого изображения в проходящих лучах даже для неплоских образцов;
  • Уникальный режим двойного ваккумирования – переключение в несколько секунд. В режиме полного вакуума для обеспечения чувствительности по легким элементам вакуумируется вся камера образцов. В режиме частичного вакуума образец находится при атмосферном давлении, а вакуум создается вокруг детектора и капиллярной оптики. Этот режим идеально подходит для анализа увлажненных образцов, таких, как биологические ткани и хрупкие археологические и музейные объекты;
  • Аккомодационная камера позволяет проводить анализ самого широко спектра образцов, от 10 мкм анализа на микроскопической приставке, до картографического анализа зоны 10 х 10 см;
  • Интуитивно понятное программное обеспечение позволяет легко контролировать прибор, быстро просмотреть образец и выбрать область анализа, а также провести полный анализ. Функционал программного обеспечения включает: автоматическую идентификацию пиков, количественные измерения, генерирование составного RGB изображения, анализ профиля по линии.
Параметры Значения

Определяемые элементы

От Na до U

Рентгеновская трубка

Rh, 50 кВ, 1 мА

Детектор рентгеновской флуоресценции

Silicon Drift Detector (SDD), Пельтье охлаждение

Детектор рентгеновского пропускания

Сцинтиллятор NaI (Tl)

Оптика

Монокапиллярная, 10 мкм / 100 мкм, без фильтров

Изображение

Полноразмерное оптическое и коаксиальное увеличенное

Размер столика образца, мм

100 х 100

Размер вакуумной камеры, мм

300 х 300 х 80

Количественный анализ

Метод фундаментальных параметров
Калибровочная кривая
Многослойный анализ

Картографические функции

Изображение в проходящих рентгеновских лучах
Карта распределения элементов
Спектральная карта
Анализ вдоль линии

Габаритные размеры (ДхШхВ), мм

950 х 680 х 760

Яндекс.Метрика