Измерение образцов
Образцы для анализа могут быть практически любой природы — металлическими, полупроводниковыми, керамическими или стеклянными, оксидными, нитридными.
Какую информацию можно получить в результате измерений?
- Последовательность слоев покрытий от поверхности на глубину до 150–200 мкм;
- Кривую распределения для элементов от H до U c поверхности вглубь образца;
- Взаимопроникновение элементов соседних слоях;
- Приповерхностные изменения состава материалов в результате термохимической обработки;
Пишите нам, если вам необходимо проанализировать образцы для текущих работ, статей или вы просто хотите проконтролировать результаты, полученные другими методами. Наша цель таких безвозмездных исследований — научиться лучше понимать пригодность спектрометрии тлеющего разряда для различных типов покрытий.
Для проведения анализа, заполните, пожалуйста, заявку. Мы свяжемся с Вами в рабочее время в течение
Ответственный за исследования: Алексей Викторович Кузнецов, +7 (495) 098-00-97
Дополнительные материалы:
