Новая опция для увеличения скорости работы спектрометра тлеющего разряда HORIBA Profiler 2

Новая опция для увеличения скорости работы спектрометра тлеющего разряда HORIBA Profiler 2

Спектрометр тлеющего разряда HORIBA Profiler 2 является самым простым, быстрым и точным прибором для проведения анализа химического состава покрытий и внутренней структуры профиля тонких и толстых пленок толщиной от 1 нм до более, чем 100 мкм.

Известно, что темп распыления при проведении анализа образца зависит от материала, его толщины и глубины проникновения. Ранее оценка уровня распыления была результатом расчетов и внешних измерений, обладающих относительно невысокой точностью. Разностный интерферометр DiP позволяет проводить прямое измерение толщины слоя, скорости распыления, а также образованного в результате эмиссии глубины кратера. Благодаря этой опции прямое измерение глубины кратера проходит в режиме реального времени с нанометровой точностью, которое выполняется одновременно с основным анализом состава.

Данная опция предназначена как для комплектации новых спектрометров, так и для установки на уже работающий прибор, так как оптическая схема интерферометра не влияет на его производительность.

С более подробной информацией можно ознакомиться по ссылке: DiP – Differential Interferometry Profiling (eng)




Яндекс.Метрика