Определение характеристик тонких светодиодных пленок с помощью эллипсометров HORIBA Scientific

Одними из основных сфер применения полупроводниковых светодиодов являются системы освещения и подсветка дисплеев. Требования, предъявляемые к светодиодам, заключаются в необходимости снижения общих затрат производства, повышения эффективности и времени жизни. Энергетическая эффективность светодиодов напрямую зависит от конструктивных, а в целом, и от физических свойств тонкопленочной структуры.

Спектральная эллипсометрия является одним из ключевых методов точного определения толщин слоев, а также оптических постоянных светодиодных устройств, что крайне важно для оптимизации конечных характеристик продукции электронной промышленности. Специалисты HORIBA Scientific разработали новое приложение для спектральных эллипсометров, посвященное исследованию тонких светодиодных пленок. На их примере описана методика определения оптических констант, величин запрещенных зон, а также толщин полупроводниковых пленок с использованием эллипсометров Uvisel и Auto SE.

Предлагаем ознакомиться с более подробной информацией, пройдя по ссылке: Приложение Эллипсометрия – Определение характеристик тонких светодиодных пленок (рус).

Если вы хотите узнать больше, пишите по e-mail nytek@nytek.ru или звоните по тел. +7 (495) 661 0681.