Определение характеристик ультратонких пленок поверхностно-активных веществ (ПАВ) с помощью спектрального эллипсометра HORIBA Uvisel

Определение характеристик ультратонких пленок поверхностно-активных веществ (ПАВ) с помощью спектрального эллипсометра HORIBA Uvisel

Неионные поверхностно-активные вещества (ПАВ) широко применяются в промышленном производстве моющих растворов, а также служат для стабилизации процессов дисперсии и эмульгирования. ПАВ также используются в качестве стабилизации состояния тонких пленок, включая смачивающие пленки. Потому равновесие и кинетика процесса адсорбции при изменении концентрации ПАВ на границе раздела воздух-вода и вода-твердое вещество являются критически важной информацией.

Изучение процесса адсорбции пленок ПАВ толщиной всего несколько нанометров остается одной из наиболее сложных областей применения спектральной эллипсометрии по двум основным причинам. Во-первых, надежность полученных спектральных данных о толщине и оптических константах пленки, определяющих адсорбцию, напрямую зависит от чувствительности используемого в эксперименте прибора. Во-вторых, при измерении сверхтонких покрытий существует взаимосвязь между толщиной пленки и оптическими константами. Потому в большинстве случаев при обработке эллипсометрических данных при измерении ультратонких пленок расчет толщины проводится исходя из предположения, что покрытие является однородным, а показатель преломления постоянен и берется либо из литературы, либо измеряется с помощью другого прибора (например, рефрактометра Аббе). Такие способы определения показателя преломления оказывают сильное влияние на результат и могут вызвать серьезную ошибку в вычислениях.

С помощью спектрального эллипсометра HORIBA Uvisel доступно прямое измерение толщины и оптических констант ультратонких пленок ПАВ без необходимости в дополнительных приборах и вычислениях. Высокая чувствительность Uvisel достигается благодаря методу фазовой модуляции излучения, а также использованию высокоэффективных сканирующих спектрометров.

Более подробную информацию можно получить, пройдя по ссылке: Приложение Эллипсометрия - Определение характеристик ультратонких пленок ПАВ (eng).

Если вы хотите узнать больше, пишите по e-mail: nytek@nytek.ru или звоните по тел. +7 (495) 661 0681.




Яндекс.Метрика