Вебинар «Новый метод профилирования по глубине»

Вебинар «Новый метод профилирования по глубине»

Уважаемые господа!

Приглашаем вас принять участие в вебинаре HORIBA Scientific, посвященном особенностям метода Plasma Profiling Time of Flight Mass Spectrometry (PP-TOFMS) для исследования тонких пленок.

PP-TOFMS является новейшим методом для анализа свойств материалов и предоставляет данные по сверхбыстрому и прямому определению элементного состава по глубине образца. PP-TOFMS эффективен в таких областях, как микроэлектроника, фотоника, фотовольтаика.

Участие в вебинаре позволит вам познакомиться с особенностями метода и узнать о возможности его применения вместе с другими методами исследования поверхности (XPS, SIMS, SEM-EDX, RBS).

Вебинар состоится 15 октября 2015, начало в 11.00 мск и в 18.00 мск.
Докладчик: Agnes Tempez, PP-TOFMS продакт-менеджер.

Для регистрации на вебинар, пожалуйста, пройдите по ссылке онлайн-регистрация.




Зарегистрироваться на мероприятие

* - обязательные поля

Яндекс.Метрика