Современные методы анализа поверхности

Современные методы анализа поверхности

Уважаемые коллеги!

Томский политехнический университет и ЗАО «Найтек Инструментс» - официальный дилер HORIBA Scientific, приглашают вас принять участие в семинаре «Современные методы анализа поверхности: спектрометрия тлеющего разряда, эллипсометрия, атомно-силовая микроскопия».

Участие в семинаре бесплатное.

Дата и место проведения семинара: 22 апреля 2014 года, Томский политехнический университет, г. Томск, пр. Ленина, 43, корпус 3, аудитория 206.

Докладчики:

  • Патрик Шапон, руководитель направления GD, HORIBA Scientific
  • Кирилл Аникин, региональный представитель, ЗАО «Найтек Инструментс»
  • Михаил Трусов, руководитель направления Raman/AFM, ЗАО «Найтек Инструментс»

Контактные лица:
Наталья Пушилина (ТПУ), pushilina @tpu.ru, тел. +7 (3822) 70-57-01
Алексей Кузнецов (Найтек Инструментс), akuznetsov @nytek.ru, тел. +7 (495) 661-06-81

Будем рады видеть вас в числе участников!




Зарегистрироваться на мероприятие

* - обязательные поля

Яндекс.Метрика