Внимание! Сайт на реконструкции, представленная информация неактуальна.

Семинар «Послойный элементный анализ материалов и покрытий с помощью спектрометрии тлеющего разряда»

Семинар «Послойный элементный анализ материалов и покрытий с помощью спектрометрии тлеющего разряда»

Уважаемые коллеги!

Приглашаем вас посетить семинар «Послойный элементный анализ материалов и покрытий с помощью спектрометрии тлеющего разряда».

Спектрометрия тлеющего разряда используются для анализа химического состава покрытий и внутренней структуры образца. Это единственный метод, который позволяет менее чем за минуту получить информацию о химическом составе образца по глубине. Типичными объектами данного метода являются покрытия на металлах и сплавах, полупроводники, полимерные покрытия, стекла, PVD- и CVD-покрытия. Приборы могут использоваться как самостоятельно, так и в качестве дополняющего метода таким методам анализа, как рентгено-фотоэлектронная спектроскопия, электронная микроскопия, вторичная ионная масс-спектрометрия.

Семинар состоится 25 ноября в 10.00 в офисе ЗАО «Найтек Инструментс» по адресу г. Москва, Малый Кисельный пер., 3, стр. 2 (ст.м. Трубная, Кузнецкий мост, Тургеневская). Продолжительность – 3 часа.


Программа мероприятия:
09.30 – 10.00 Регистрация, приветственный кофе
10.00 – 11.00 Спектрометрия тлеющего разряда. Основы метода. Сравнение с альтернативными методами анализа покрытий.
11.00 – 11.15 Кофе-брейк
11.15 – 12.00 Опыт использования спектрометрии тлеющего разряда для анализа тонких слоев.
12.00 – 12.30 Выбор правильной комплектации спектрометра тлеющего разряда в зависимости от приложений.
12.30 – 13.00 Дискуссия


Контактное лицо: Алина Халитова, alina @nytek.ru, тел. +7 (495) 661-06-81*109.

До скорой встречи!




Зарегистрироваться на мероприятие

* - обязательные поля

Яндекс.Метрика