Анонс предстоящих мероприятий | ||||||
---|---|---|---|---|---|---|
Пн | Вт | Ср | Чт | Пт | Сб | Вс |
1
|
2
|
3
|
||||
4
|
5
|
6
|
7
|
8
|
9
|
10
|
11
|
12
|
13
|
14
|
15
|
16
|
17
|
18
|
19
|
20
|
21
|
22
|
23
|
24
|
25
|
26
|
27
|
28
|
29
|
30
|
Мероприятия
16.03.2015
«Найтек Инструментс» примет участие в выставке «Фотоника 2015»
Международная специализированная выставка лазерной, оптической и оптоэлектронной техники.
19.02.2015
Клуб пользователей флуориметров и рамановских спектрометров HORIBA Scientific
Приглашаем пользователей спектрофлуориметров и рамановских спектрометров HORIBA Scientific принять участие в заседании Клуба пользователей (Санкт-Петербург).
18.02.2015
Клуб пользователей рамановских спектрометров HORIBA Scientific
Приглашаем пользователей рамановских спектрометров HORIBA Scientific принять участие в заседании Клуба пользователей (Москва).
17.02.2015
Клуб пользователей флуориметров HORIBA Scientific
Приглашаем пользователей спектрофлуориметров HORIBA Scientific принять участие в заседании Клуба пользователей (Москва).
16.12.2014
Семинар «Рамановская спектроскопия, зондовая микроскопия и методы послойного анализа материалов»
Последние разработки в области рамановской спектрометрии, спектрометрии тлеющего разряда и эллипсометрии (г. Нижний Новгород).
28.11.2014
Семинар по спектрофлуориметрии
Спектрофлуориметры HORIBA Scientific для рутинных и сложных исследовательских задач. Презентация микроскопической системы для измерения времени жизни флуоресценции HORIBA DeltaMyc.
27.11.2014
Семинар по методам пробоподготовки и ИСП
Серия мини-семинаров, посвященных методам подготовки проб и спектрометрии с индуктивно связанной плазмой.
26.11.2014
Семинар «Новое в серии рамановских спектрометров HORIBA Scientific»
Рамановские спектрометры HORIBA Scientific: новые приборы и новые возможности от ведущего производителя спектральной техники.
25.11.2014
Семинар «Послойный элементный анализ материалов и покрытий с помощью спектрометрии тлеющего разряда»
Спектрометрия тлеющего разряда - единственный метод, который позволяет менее чем за минуту получить информацию о химическом составе образца по глубине.
21.11.2014
Семинар по методу визуализации поверхностного плазмонного резонанса (SPRi)
Новое поколение систем SPRi анализа - презентация системы EzPlex.
22.10.2014
Семинар по методам пробоподготовки и ИСП
Серия мини-семинаров, посвященных методам подготовки проб и спектрометрии с индуктивно связанной плазмой.
23.09.2014
Семинар по методам пробоподготовки и ИСП
Серия мини-семинаров, посвященных методам подготовки проб и спектрометрии с индуктивно связанной плазмой.
29.07.2014
Семинар по методам пробоподготовки и ИСП
Серия мини-семинаров, посвященных методам подготовки проб и спектрометрии с индуктивно связанной плазмой.
10.07.2014
Семинар по созданию комбинированных Raman/AFM установок для работы в режиме TERS
Последние достижения компаний HORIBA Scientific и AIST-NT Inc. в области создания комбинированных Raman/AFM установок для работы в режиме TERS.
08.07.2014
Презентация портативного рамановского спектрометра RIGAKU Progeny
RIGAKU Progeny - первый портативный рамановский спектрометр, специально созданный для экспресс-анализа сырья и готовой продукции в фармацевтическом производстве.
24.06.2014
Семинар по методам пробоподготовки и ИСП
Серия мини-семинаров, посвященных методам подготовки проб и спектрометрии с индуктивно связанной плазмой.
18.06.2014
FluoroFest 2014: теория и практика флуоресценции – мировой опыт
Мировая серия семинаров для научных специалистов и пользователей приборов.
26.05.2014
Семинар по спектрофлуориметрии
Спектрофлуориметры HORIBA Scientific для рутинных и сложных исследовательских задач. Технические характеристики, программное обеспечение, методики, приложения.
20.05.2014
Семинар по методу поверхностного плазмонного резонанса (SPRi)
Метод определения связывания биомолекул, не требующий введения меток. Приложения для биологии, медицины, экологии, нанотехнологий.
22.04.2014
Современные методы анализа поверхности
Семинар «Современные методы анализа поверхности: спектрометрия тлеющего разряда, эллипсометрия, атомно-силовая микроскопия», Томск.