Спектрометр комбинационного рассеяния (рамановский) XploRA PLUS

Идеальное решение для работы в многопользовательском окружении с различными типами образцов.

технология скоростного рамановского картирования SWIFT (до 10 раз быстрее обычных режимов работы);
автоматическое переключение длин волн возбуждения одним щелчком мыши;
запатентованные решения для поверки и автокалибровки, обеспечивающие высокую надежность получаемых результатов.

XploRA PLUS объединяет богатые возможности и уникальную функциональность в рамках надежной, высокопроизводительной системы, идеально подходящей как для исследовательской, так и для аналитической лаборатории. XploRA PLUS представляет собой наилучшее решение для работы в многопользовательском окружении с различными классами образцов.

Конфокальная оптическая схема обеспечивает идеальное качество оптического изображения с высоким разрешением, как в плоскости образца, так и по глубине. Технология SWIFT обеспечивает быстрое КР-картирование со скоростью до 10 раз выше обычных режимов работы.

Рамановский спектрометр XploRA PLUS на сегодняшний день не имеет себе равных по простоте использовании и богатству возможностей, особенно учитывая широчайший выбор дополнительных опций и аксессуаров, таких, как несколько длин волн возбуждения, возможность установить EMCCD детектор, управление поляризацией, и даже комбинация с AFM.

Параметры	Значение
Ускоренный режим съема спектров SWIFT	Да, с моторизованным столиком XY
Конфокальное картирование	0,5 мкм XY
Автоматизация основных операций	Процедура OneClick
Оптический микроскоп	Прямой
Разрешение	Стандартное + высокое > 1,4 см^-1 FWHM
Работа с несколькими лазерами	532, 638, 785 нм; другие длины волн доступны по запросу