Главная Продукция Анализ поверхности

Анализ поверхности

Спектральный эллипсометр Auto SE

Быстрый, простой и полностью автоматизированный эллипсометр для типовых приложений.

  • широкий спектральный диапазон – от 440 до 1000 нм;
  • визуализация образца, анализ толщин и оптических константа менее, чем за 5 секунд;
  • точность определения показателя преломления до 0,002.

Подробнее

Отправить запрос

Спектрометр тлеющего разряда Profiler 2

Самый простой, быстрый и точный прибор для анализа химического состава покрытий и внутренней структуры образца.

  • анализ проводящих и непроводящих образцов;
  • быстрое определение химического состава до глубины 150-200 мкм;
  • чувствительность для большинства элементов – от 1-10 ppm.

Подробнее

Отправить расширенный запрос

Спектральный эллипсометр UVISEL 2

Новое поколение популярной серии эллипсометров UVISEL.

  • полностью автоматизированное измерение образцов и калибровка прибора;
  • возможность измерять образцы толщиной от нескольких Ангстрем до десятков микрон благодаря широкому спектральному диапазону;
  • оптимальное решение для большинства задач анализа тонких пленок.

Подробнее

Отправить запрос

Спектральный эллипсометр UVISEL

Высокоточный эллипсометр научного класса.

  • широкий спектральный диапазон – от 145 до 2100 нм;
  • модульная компоновка для выбора конфигурации под конкретные задачи;
  • патентованная система микропучка – до 50 микрон практически во всем спектральном диапазоне.

Подробнее

Отправить запрос

Спектральный эллипсометр Smart SE

Доступный и функциональный эллипсометр.

  • спектральный диапазон от 450 до 1000 нм;
  • определение толщины пленок от нескольких ангстрем до 20 мкм;
  • широкий набор опций в базовой конфигурации.

Подробнее

Отправить запрос
Яндекс.Метрика